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  1. Heuermann, H., Schiek, B., Robuster Algorithmus zur Streuparameterbestimmung für systemfehlerkorrigierte Netzwerkanalysatoren, Kleinheubacher Berichte, 1991, Bd. 35, pp. 555-566
  2. Heuermann, H., Schiek, B., LNN (Line-Network-Network): Verfahren zur Kalibrierung von Netzwerkanalysatoren, Kleinheubacher Berichte, 1992, Bd. 36, pp. 327-335
  3. Heuermann, H., Schiek, B., A Generalization of the Txx Network Analyzer Self-Calibration Procedure, 22nd European Microwave Conf. Proc., Helsinki, 1992, pp. 907-912
  4. Heuermann, H., Schiek, B., LNN (Line-Network-Network): The In-Fixture Calibration Procedure, XXIVth General Assembly of the International URSI, Kyoto, 1993, p. 149
  5. Heuermann, H., Schiek, B., Neue Kalibrierverfahren für on-wafer-Messungen, Kleinheubacher Berichte, 1993, Bd. 37, pp. 195-204
  6. Heuermann, H., Schiek, B., The In-Fixture Calibration Procedure Line-Network-Network-LNN, 23rd European Microwave Conf. Proc., Madrid, 1993, pp. 500-505
  7. Baumann, F.-M., Fauth, G., Albert, M., Heuermann, H., Schiek, B., On-Line Moisture Analysis of Raw Coal, 1993 Tnt. Symp. On-line Analysis of Coal, Vienna, Oct. 1993
  8. Heuermann, H., Schiek, B., Error Corrected Impedance Measurements with a Network Analyzer, CPEM'94 Conf. Proc., Boulder, 1994, pp. 125-126
  9. Heuermann, H., Schiek, B., Scattering Parameter Measurements of Microstrip Devices using the Double-LNN Calibration Technique, 24th European Microwave Conf. Proc., Cannes, 1994
  10. Heuermann, H., Schiek, B., Results of Network Analyzer Measurements with Leakage Errors Corrected with the TMS-15-Term Procedure, Proceedings of the IEEE MTT-S International Microwave Symposium, San Diego, 1994, pp. 1361-1364
  11. Heuermann, H., Schiek, B., Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren, Kleinheubacher Berichte, 1994, Bd. 38, pp. 611-622
  12. Heuermann, H., Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten, MIOB'95 Konferenzband, Stuttgart, 1995, pp. 23-29
  13. Heuermann, H., Schiek, B., The Double-LNN Calibration Technique for Scattering Parameter Measurements of Microstrip Devices, 25th European Microwave Conf. Proc., Bologna, 1995
  14. Heuermann, H., LZY: A Self-Calibration Approach in Competition to the LRM Method for On-Wafer Measurements, 45th ARFTG Conf. Proc., Orlando, 1995, pp. 129-136
  15. Stolle, R., Heuermann, H., Schiek, B., Neuartige Algorithmen für die Mikrowellen-Entfernungsmessung, Kleinheubacher Berichte 1995, Bd. 38, pp. 817-834
  16. Stolle, R., Heuermann, H., Schiek, B., Novel Algorithms for FMCW Range Finding with Microwaves, NTC Conf. Dig., Orlando, 1995
  17. Heuermann, H., Sure Methods of On-Wafer Scattering Parameter Measurements with Self-Calibration Procedures, 46th ARFTG Conf. Proc., San Francisco, 1996, pp. 136-145
  18. Graf, W., Heuermann, H., Vergleich mehrerer Näherungsverfahren zur Berechnung des Wellenwiderstandes von Mikrostreifenleitungen mit experimentellen Ergebnissen, Kleinheubacher Berichte 1996, Bd. 39
  19. Heuermann, H., Microwave On-Wafer Measurements with Activ Needle Probe Tips, 47th ARFTG Conf. Proc., Denver, 1997
  20. Graf, W., Heuermann, H., Direkte Messung der Dispersion des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung, Kleinheubacher Berichte 1997, Bd. 40
  21. Heuermann, H., Präzise Streuparametermessungen sind der Schlüssel zur Modellierung elektrischer Schaltungen, Neues von Rohde & Schwarz, 1997, Nr. 156, pp. 22-23
  22. Graf, W., Heuermann, H., Direkte on-wafer-Messung des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung, Kleinheubacher Berichte 1998, Bd. 41
  23. Schmelz, Ch., Heuermann, H., Heide, P., Experimentelle Untersuchungen zur Anregung parasitärer Moden auf Koplanarleitungen bis 110 GHz, Kleinheubacher Berichte 1998, Bd. 41
  24. Heuermann, H., GSOLT: The Calibration Procedure for all Multi-Port Vector Network Analyzers, MTT-S International Microwave Symposium, Philadelphia, pp. 1815-1818, Jun. 2003
  25. Heuermann, H., Rumiantsev, A., Schott, St., Advanced On-Wafer Multiport Calibration Methods for Mono- and Mixed-Mode Device Characterisation, 63rd ARFTG Conf. Proc., Fort-Worth Texas, pp. 91-95, June 2004
  26. Heuermann, H., A Synthesis Technique for Mono- and Mixed-Mode Symmetrical Filter, European Microwave Conf., Amsterdam, Oct. 2004, pp. 309-312
  27. Erkens, H., Heuermann, H., Blocking Structures for Mixed-Mode-Systems, European Microwave Conf., Amsterdam, Oct. 2004, pp. 297-300
  28. Sadeghfam, A., Heuermann, H., Novel Balanced Inductor for Compact Differential Systems, European Microwave Conf., Amsterdam, Oct. 2004, pp. 709-712
  29. Erkens, H., Heuermann, H., EVM- und BER-optimierter differentieller Einseitenbandmodulator, German Microwave Conf., Ulm, April 2005
  30. Heuermann, H., Luenebach, M., A Novel Dual-Mode-Design for Push-Push Oscillators with Improved Phase Noise Performance, European Microwave Conf., Paris, Oct. 2005
  31. Sadeghfam, A., Heuermann, H., Ultra Compact Multi-Mode Filter with Novel Rat-Race Inductor, European Microwave Conf., Paris, Oct. 2005
  32. Ibrahim, I., Peters, N., Heuermann, H., Load Variation Tolerant Balanced Amplifier with Two Element LC-Coupler, German Microwave Conf., Karlsruhe, April 2006
  33. Heuermann, H., Multiport S-Parameter Calculation from Two-Port Network Analyzer Measurements with or without Switch Matrix, 65th ARFTG Conf. Proc., San Franscisco, pp. 219-222, Jun. 2006
  34. Heuermann, H., Rumiantsev, A., The Modified Ripple Test for On-Wafer S-Parameter Measurements, 67th ARFTG Conf. Proc., Honolulu, angenommen für Jun. 2007
  35. Rumiantsev, A., Heuermann, H., Schott, St., A Robust Broadband Calibration Method for Wafer-Level Characterization of Multiport Devices, 67th ARFTG Conf. Proc., Honolulu, angenommen für Jun. 2007
  36. Sadeghfam, A., Heuermann, H., On the Design of Multimode Integration Circuits in Multilayered Processes, European Microwave Conf., Munich, Oct. 2007